Im Rahmen des PEMOWE-Projekts wurde ein elektronisches Testboard mittels Mikro-Computertomographie (µCT) vollständig dreidimensional erfasst. Im gezeigten Bild ist ein Isosurface-Rendering zu sehen, das die feine innere Struktur eines zylindrischen Kondensators sowie umliegender passiver Komponenten visualisiert. Die µCT-Technologie erlaubt dabei eine zerstörungsfreie Einsicht in die Lötstellen, die Geometrie der Wicklungen sowie die Kontaktierung der Bauteile – selbst unter lichtundurchlässigen Gehäusen.
Diese Analyseform ist besonders relevant für die Qualitätssicherung in der Leistungselektronik, da kritische Defekte wie Risse, Delaminationen, Lunker oder deformierte Kontakte frühzeitig erkannt werden können. Die durch den Scan gewonnenen Daten können zudem zur Finite-Elemente-Simulation exportiert werden, um das thermisch-mechanische Verhalten der Komponenten unter Lastbedingungen zu analysieren. So leistet die µCT-basierte Bauteilprüfung einen wertvollen Beitrag zur Ausfallsicherheit und Lebensdauerbewertung elektronischer Systeme in der Energie- und Mobilitätswende.